MUHANDISLIK VA IQTISODIYOT
ijtimoy-iqtisodiy, innovatsion texnologik, fan va ta’limga oid ilmiy-amaliy jurnal
Том 4 № 10 (2026): «Muhandislik va Iqtisodiyot» jurnali
Последние статьи
GIPERSPEKTRAL TASVIRLARNI TASNIFLASHDA FAZOVIY SIZIB CHIQISH NIMANI OʻLCHAYDI? YAQINLIK, KOʻRILMAGAN SINFLAR VA SINFLAR TARKIBIGA AJRATISH
BARQAROR TRANSPORT XIZMATLARI UCHUN “YASHIL” INFRATUZILMANI SHAKLLANTIRISHNING METODOLOGIK ASOSLARI
KABEL SANOATI KORXONALARIDA INNOVATSION-INVESTITSION FAOLIYAT SAMARADORLIGINI BAHOLASH: “UZKABEL” AJ QK MISOLIDA
O‘ZBEKISTONDA VENCHUR KAPITALI ORQALI LOYIHALARNI MOLIYALASHTIRISH
OLIY TA’LIM MUASSASALARINING RAQOBATBARDOSHLIGINI BOSHQARISHDA IQTISODIY DIAGNOSTIKA VA KADRLAR SALOHIYATINI RIVOJLANTIRISH MEXANIZMLARINI TAKOMILLASHTIRISH
SIRDARYO VILOYATIDA OILAVIY MAKTABGACHA TAʼLIM XIZMATLARIGA TALAB VA MARKETING SAMARADORLIGINI KOʻP MEZONLI BAHOLASH USLUBIYATINI TAKOMILLASHTIRISH
NODAVLAT NOTIJORAT TASHKILOTLARI FAOLIYATINI MOLIYALASHTIRISHNING ZAMONAVIY MEXANIZMLARINI RIVOJLANTIRISH
Самые читаемые
Недавние выпуски
MUHANDISLIK VA IQTISODIYOT
ijtimoy-iqtisodiy, innovatsion texnologik, fan va ta’limga oid ilmiy-amaliy jurnal
Процесс публикации
Отправка статьи
Загрузите рукопись через онлайн-портал.
Рецензирование
Двойное слепое рецензирование экспертами.
Редакционное решение
Принятие, редактирование и присвоение DOI.
Публикация
Статья в открытом доступе с DOI и электронным сертификатом.
Почему стоит публиковаться в «Инженерии и экономике»
Рецензируемый научный журнал открытого доступа, индексируемый в международных базах.
Быстрый процесс
Оптимизированный редакционный процесс от подачи до публикации.
DOI для каждой статьи
Постоянный DOI (Zenodo) для глобальной находимости.
Бесплатные э-сертификаты
Профессиональный сертификат о публикации для каждого автора — без доплат.
Открытый доступ
Все статьи свободно доступны по всему миру по лицензии CC BY 4.0.
Двойное слепое рецензирование
Строгая и беспристрастная оценка независимыми экспертами.
Международная индексация
Индексируется в Google Scholar, Inspec и IEEE Xplore.

