METROLOGIYANING ILMIY-METODIK ASOSLARI VA UNING ZAMONAVIY RIVOJLANISH TENDENSIYALARI
DOI:
https://doi.org/10.5281/zenodo.20142999Ключевые слова:
Metrologiya, o‘lchash nazariyasi, ilmiy-metodik asoslar, SI tizimi, o‘lchash aniqligi, xatoliklar, kalibrlash, standartlashtirish, raqamli metrologiya, avtomatlashtirilgan tizimlar, sun’iy intellekt, sensor texnologiyalarАннотация
Ushbu mavzuda metrologiyaning ilmiy-metodik asoslari, ya’ni o‘lchash nazariyasining shakllanishi, o‘lchov
birliklarining standartlashuvi hamda o‘lchash jarayonlari ishonchliligini ta’minlash tamoyillari tahlil qilinadi. Shuningdek,
metrologiyaning zamonaviy rivojlanish tendensiyalari, jumladan, raqamli metrologiya, avtomatlashtirilgan o‘lchash tizimlari,
sun’iy intellekt va sensor texnologiyalarining o‘lchash jarayonlariga integratsiyasi yoritiladi. Mazkur mavzu metrologiyaning
ilmiy asoslarini chuqur tushunish va uning zamonaviy sanoat va ilm-fandagi o‘rnini baholashga yordam beradi
Библиографические ссылки
JCGM 100:2008. Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement (GUM).
ISO/IEC 17025:2017. General Requirements for the Competence of Testing and Calibration Laboratories.
O‘zbekiston Respublikasi. Metrologiya asoslari: o‘quv qo‘llanma. — Toshkent.
BIPM (Bureau International des Poids et Mesures). The International System of Units (SI Brochure). 9th edition.
Taylor, B. N., Kuyatt, C. E. Guidelines for Evaluating and Expressing the Uncertainty of NIST Measurement Results.
Smith, N. J. R. Fundamentals of Metrology and Measurement Systems. — Springer.
Загрузки
Опубликован
Выпуск
Раздел
Лицензия
Copyright (c) 2026 MUHANDISLIK VA IQTISODIYOT
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.