Zamonaviy metrologiya asoslari, kvant metrologiyaning istiqbollari
DOI:
https://doi.org/10.5281/zenodo.15424084Ключевые слова:
kvant metrologiya, sun’iy intellekt, IoT, raqamli metrologiya, datchiklar, nanometrologiya, modda, materiallar, aniqlik, o‘lchash darajasiАннотация
Mazkur maqolada zamonaviy metrologiyaning nazariy asoslari, texnologik
taraqqiyotlar ta’sirida shakllangan yangi konseptual yondashuvlar hamda kvant metrologiyaning
ilmiy va amaliy istiqbollari yoritilgan. Kvant metrologiyaning o‘lchash aniqligini oshirishdagi o‘rni,
raqamli texnologiyalar, sun’iy intellekt va IoT tizimlari bilan integratsiyasi tahlil qilingan. Shuningdek,
nano-metrologiya doirasida modda va materiallar bilan bog‘liq o‘lchash texnikalari misollar bilan
ko‘rsatib berilgan. Tadqiqotda ilgari surilgan yondashuvlarning afzalliklari va amaliy samaradorligi
ilmiy dalillar bilan asoslab berilgan
Библиографические ссылки
Quinn, T.J. (1997). Base Units of the SI, Fundamental Constants and Modern Quantum Physics.
Metrologia.
Giovannetti, V., Lloyd, S., Maccone, L. (2004). Quantum-Enhanced Measurements. Science.
BIPM – Bureau International des Poids et Mesures. www.bipm.org
Nazarov Yu.V. Kvant o‘lchovlar va metrologiyaning fundamental asoslari. Moskva, 2020.
Загрузки
Опубликован
Выпуск
Раздел
Лицензия
Copyright (c) 2025 MUHANDISLIK VA IQTISODIYOT
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.